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★ 離子遷移測試
離子遷移(CAF )測試是評價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法，將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中，并在相鄰的兩個(gè)絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓（偏置電壓），在長時(shí)間的測試條件下，檢測兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。
??實(shí)踐證明，將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時(shí)間，將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行絕緣電阻測試，這種間斷式的測試方法，會漏過很多實(shí)際發(fā)生的離子遷移。??
??有效的離子遷移測試，需要將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測試設(shè)備上，在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測試，同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測測試樣品上的泄漏電流。??
??★MIR 絕緣電阻測試系統(tǒng)主要用途：
PCB基材，PCB，電容，連接器等元件的絕緣可靠性測試SMT助焊劑清洗工藝的評價(jià)電子絕緣材料，電纜及線材的絕緣老化性能評估
★MIR 絕緣電阻測試系統(tǒng)主要特點(diǎn)：
●MIR絕緣電阻測試系統(tǒng)適應(yīng)IPC, IEC,JPCA,ISO ,Bellcore等標(biāo)準(zhǔn)。
●每個(gè)Slot提供多達(dá)32個(gè)測試通道，系統(tǒng)可提供32*n（n=1，2...）不同數(shù)量通道。
●模塊化結(jié)構(gòu)，不僅易于擴(kuò)展，還易于進(jìn)行故障定位和維修。
●采用高精度絕緣電阻儀作為核心儀表。
●系統(tǒng)集成試驗(yàn)箱溫濕度測試。
●每個(gè)Slot的測試參數(shù)可以獨(dú)立設(shè)置。
●可以檢測測試電纜開路或短路。
●可對絕緣電阻和漏電流的測量結(jié)果進(jìn)行校正。
●偏置電壓極性可變換。
●可以設(shè)置絕緣電阻下降一定程度或低于一定值作為離子遷移發(fā)生的判斷條件。
●首創(chuàng)遷移次數(shù)和漏電次數(shù)設(shè)定。
●系統(tǒng)可以跳轉(zhuǎn)至絕緣電阻驗(yàn)證測試。
●測試狀態(tài)和數(shù)據(jù)以表格，曲線，統(tǒng)計(jì)等多種界面呈現(xiàn) 。
●每個(gè)通道的漏電流實(shí)時(shí)高速檢測，防止錯(cuò)過短暫和細(xì)小的遷移的發(fā)生。
●系統(tǒng)每一通道都獨(dú)立設(shè)置保護(hù)電路電阻以及轉(zhuǎn)換開關(guān)。
●專用PCB離子遷移測試夾具。
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